Počet záznamů: 1  

Nejistoty měření v metrologických aplikacích - Opakovaná měření a hierarchické experimenty

  1. NázevNejistoty měření v metrologických aplikacích - Opakovaná měření a hierarchické experimenty : ČSN P ISO/TS 21749
    Nakl.údajePraha : Český normalizační institut, 2007
    Fyz.popis39 s. : il.
    ISBN508.00 Kč
    EdicePředběžná česká technická norma
    PoznámkyTřídicí znak 01 0291
    Obsahuje bibliografii
    Předmět.hesla metrologie
    Forma, žánr normy
    MDT006.91 * 006.7/.8
    Země vyd.Česko
    Jazyk dok.čeština
    Počet ex.1, z toho volných 1
    VlastníkKladno SVK
    Druh dok.Normy
    SignaturaLokaceDislokaceInfo
    NO 26459Půjčovna literaturydepozitář

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše