Počet záznamů: 1
Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení
Autor Tichopádek, Petr, 1974- (Autor) Název Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení : zkrácená verze Ph.D. Thesis : obor Fyzikální a materiálové inženýrství = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus / Petr Tichopádek Souběžný název Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus Další korp. Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství Nakl.údaje [Brno : VUTIUM], c2006 Fyz.popis 31 s. : il. ; 21 cm ISBN 80-214-3138-5 (brož.) : 60.00 Kč Edice Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis, ISSN 1213-4198 ; sv. 364 Edice/záhl. Vysoké učení technické v Brně. Vědecké spisy. PhD Thesis Poznámky Anglické resumé. Nad názvem: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrstvá, Ústav fyzikálního inženýrství Obsahuje bibliografii Předmět.hesla tenké vrstvy * spektrometry * organokřemičité sloučeniny * elipsometry Forma, žánr disertace * teze Konspekt 681 - Přesná mechanika a přístroje. Hudební nástroje MDT 681.785.3 * 574.1'128 * 681.785.5 * 539.216 * (048.3) * (043.3) Země vyd. Česko Jazyk dok. čeština Počet ex. 1, z toho volných 1 Vlastník Kladno SVK Druh dok. Odborná literatura, mapy 
Signatura Lokace Dislokace Info J 237003 Půjčovna literatury depozitář
Počet záznamů: 1